失効分析実験室

失効分析実験室は電子製品が設計、生産、テスト、使用過程で発生する故障のメカニズムを分析します。失効原因分析を通して、改善と予防措置を行うことで、失効リスクを最低限に抑えられます。お客様に信頼できる良質製品を提供できます。

分析技術手段

X線システム(CT)

走査電鏡&エネルギースペクトル一体机

X蛍光分光計(XRF)

自動研磨機